![jesd22 a108 htrb](https://host.easylife.tw/files/WinToUSB.png)
TheHTRBtestistypicallyappliedonpowerdevices.4.2.3.4Hightemperaturegatebias(HTGB).TheHTGBtestbiasesgateorotheroxidesofthedevicesamples.,JESD22-A101.HTRB,高温反偏试验,TA=150°Corspecifiedmax.Tj(TAistobeadjustedtocompensateforleakage),80%ofratedBV,16...
芯片IC高温工作寿命试验之JEDEC JESD22
- jesd22 a108 htrb
- jesd22 a103
- jesd22-a108d
- astm a108 材質
- jedec jesd22 a108
- jesd22 a108 c
- jesd22 a103
- jesd22 a108 pdf
- jesd22 a114
- jesd22 a108a
- jesd22-a103
- JESD22-A108 download
- jesd22 a108 htrb
- jesd22-a108規範
- jesd22-a108 pdf
- astm a108 是什麼
- jesd22 a108a
- astm a108
- jesd22 a108 download
- jesd22 a101
- jesd22 a119
- jesd22 c101
- jesd22 a113
- jesd22-a108d
- jesd22 a104
2022年4月24日—加速因素(1)电压,(2)温度。用途:(1)qualification、mortoring.(2)短时间测试作为burnin,作为早期失效的筛选screen。
** 本站引用參考文章部分資訊,基於少量部分引用原則,為了避免造成過多外部連結,保留參考來源資訊而不直接連結,也請見諒 **